电力电容器介质损耗因素测试

电容器介质损耗因数的测试目的

电容器介质损耗因数和电容器绝缘介质的种类、厚度、浸渍剂的特性以及制造工艺有关。电容器tanδ的测量能灵敏地反映电容器绝缘介质受潮、击穿等绝缘缺陷，对制造过程中真空处理和剩余压力、引线端子焊接不良、有毛刺、铝箔或膜纸不平整等工艺的问题也有较灵敏的反应，所以说电容器介质损耗因数是电容器绝缘优劣的重要指标。

耦合电容器测试介质损耗因数的测试

测试接线

一般采用正接线，分析比较时采用反接线测量。正接线测试接线如图5-4(a)所示，反接线测试接线如图5-4(b)所示。采用正接线测量时，耦合电容器高压电极接测试电压，法兰接地，耦合电容器低压电极小套管接电桥Cx端，若被试品没有小套管， C,端与法兰连接并垫绝缘物测量。采用反接线时，耦合电容器高压电极接电桥C,端法兰和小套管接地。

测试步骤

采用正接线测量时，先将被试电容器对地放电并接地，拆除被试电容器对外所有一次连接线，电容器法兰接地，打开小套管接地线并与电桥C,端相连接，高压引线接至电容器高压电极，取下接地线，检查接线无误后，通知其他人员远离被试品并监护。合上试验电源，从零开始升压至测试电压进行测试，测试电压为10kV。测试完毕后先将电压降到零，然后读取测量数据，切断电源，对被试品进行放电并接地，拆除测试引线。特别注意小套管接地引线的恢复。

采用反接线测量时，电桥Cx端接电容器高压电极，低压电极接地。测量下节耦合电容器时下法兰和小套管接地，采用反接线测量时，桥体接地应直接与被试品接地点直接连接，测试电压为10kV。

断路器电容器介质损耗因数的测试

测试接线

通常采用正接线，如图5-5 所示，测量时被试电容器一端接测试电压，另一端接电桥Cx端。如断口电容器在安装前测试，应注意测量端要垫绝缘物。

测试步骤

1、交接时断口电容器的tanδ 应在安装前测试，主要是避免断路器灭弧室的影响。测试前先将被试电容器对地放电并接地，高压引线接至断路器电容器一端电极，电容器另一端接电桥Cx端。取下接地线，检查接线无误后，通知其他人员远离被试电容器。合上试验电源，从零开始升压至测试电压进行测试，测试电压为10kV。测试完毕后将电压降到零后读取测量数据，然后切断电源，对被试品进行放电并接地

2、预防性试验时，如果测试数据偏大，可将电容器拆下进行测试。

电容器介质损耗因数测试注意事项

测试电容器介质损耗因数的注意事项有:

1、测试应在良好的天气下进行，电容器本身及环境温度不低于+5℃，电容器表面脏污、潮湿时，应采取擦拭和烘干等措施减少表面泄漏电流的影响，必要时加屏蔽环屏蔽表面泄漏电流。

2、采用反接线测量时，电桥本体用截面较大的裸铜导线可靠接地，接地点应直接与被试品接地点直接连接

3、接线紧凑、布置合理，注意电场、磁场干扰。测试现场如有电场或磁场干扰应采用移相法、倒相法或变频法等抗干扰法进行测量。

4、高压引线连接应紧密牢靠，否则接触电阻会对膜纸复合绝缘电容器 tanδ带来误差。

5、测试前必须检查电容器是否漏油。如漏油，则电容器应退出运行，不必进行测试。

6、电容器 tanδ测量通常采用正接线。如果检查瓷套绝缘状况，可使用反接线测试，反接线能反映瓷套裂纹及内壁受潮的绝缘缺陷。

例如

一台型号为 OY-110/√3-0.01的耦合电容器,原始tanδ测试数据是0.2%，电容量0.00998μF，测试环境温度 29℃，本次测试数据 0.3%，电容量0.011μF，测试环境温度30℃，tanδ增大，电容量增长明显，仔细检查发现耦合电容器上法兰与瓷套结合处渗油。分析认为耦合电容器密封不严进水受潮，导致绝缘劣化。因为良好的油纸绝缘的tan在10~30℃范围内是稳定的或变化很小的，只有绝缘劣化， tanδ变化才会明显，电容量增大显著，说明电容器进水受潮，因为水的介电系数比电容器油要高。

7、电容器内部元件为串联、并联结构，特别是耦合电容器等电容器串联元件较多，，别元件短路、开路或劣化，tanδ反应并不是很灵敏，还要结合电容量的变化综合判断。